机译:使用低温噪声光谱法鉴定p沟道SOI FinFET中的Si膜陷阱
机译:低温(400°C)p沟道SOI肖特基ISFET的pH传感和低频噪声特性
机译:SOI p-FinFET在非常低的温度下的直流和低频噪声性能
机译:利用低频噪声光谱法对三栅极FinFET和全能栅极纳米线MOSFET中的陷阱进行识别
机译:等离子体增强的硅基薄膜材料的化学气相沉积:使用质谱和低温(<600摄氏度)固相结晶的实时过程感测
机译:使用核自旋噪声光谱仪监测密立克文温度下的慢磁化累积
机译:使用低温噪声光谱法鉴定p沟道SOI FinFET中的Si膜陷阱